CR.2TE芯片抗靜電測試系統是一種基于繼電器的超快 ESD可靠性測試和靜態閂鎖測試系統，用于評估高級 IC 器件。它完全符合當今的JEDEC/ESDA 標準，并可以配置為具有 128、256、384 或 768 個測試引腳。
特點：
1. 波形網絡 ：8位置HBM脈沖源
2. 符合行業標準的人體模型(HBM)和機器模型(MM)測試
3. 系統主機采用10英寸觸摸屏操作控制
4. 符合現行 JEDEC EIA/JESD 78方法的閂鎖測試
5. 借助預調節選件可以使用復雜測試和矢量模式使DUT矢量化，以實現出色的控制
6. 高度可重復、可重現的測試數據
7. 增強的數據集功能
8. 高電壓電源箱
9. 電源定序
10. 事件觸發器輸出
11. 全面的工程矢量調試
12. 可使用智能化軟件平臺進行直觀的設置和操作
技術指標：
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測試通道數 |
128 |
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基于繼電器的操作 |
可實現比機械式測試儀快5到10倍的測試速度 |
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波形網絡 |
具有100pF/1500Ω的8位置HBM脈沖源 |
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人體模型(HBM) |
100pF/1500Ω 網絡，符合 ESDA、ESDA/JEDEC JS-001、MIL-STD 883 和 AEC Q100-002 規格，最高輸出電壓：±15kV 通過一個集成式系統按照多個行業標準進行測試 ；無需更換或對齊脈沖源 |
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多個自檢診斷例程 |
在一直到測試插座的整個繼電器陣列中確保系統完整性 |
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測試報告 |
預應力、失效前(ESD)和失效后數據，以及完整的曲線描記和特定數據點測量。可以導出數據進行統計評估和演示 |
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電性能參數測試分析 |
可對各類器件可進行高精度的V/I電源測試分析。包含器件耗散功率、正向電壓、正向電流、反向漏電流，以及靜態和極限參數測試和自定義失效判定功能 |